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TiZrN thin films under CO₂ and thermal treatment characterized by x-ray photoelectron spectroscopy

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autores

Jorge Hernan Quintero Orozco
Ospina, R.
Quintero Orozco, Jorge Hernan
Quintero-Orozco, J.H.
Rodriguez-Pereira, J.

Identidad

Identificador de objeto digital (DOI)

https://doi.org/10.1116/1.5127759

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Fecha / hora

2019 invalid format